GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
标准编号：GB 1553-1979
中文标准名称：硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
英文标准名称：measurement of monocrystalline silicon lifetime by d.c photoconductive decay methods
标准状态：已作废
被代替标准号：被GB/T 1553-1997代替
语言：简体中文版、英文版
发布日期：1979-05-26
实施日期：1980-01-01
标准类别：国家标准GB
中国标准文献分类法(中标分类CCS)：冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法
国际标准分类法(ICS)：
标准页数：8页
引用标准：被GB/T 1553-1997代替
文件格式：纸质版或者PDF电子版（用Acrobat Reader打开）或Word版本doc格式
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