GB 1554-1979  硅单晶(111)晶面位错蚀坑腐蚀显示测量方法

标准编号：GB 1554-1979

中文标准名称：硅单晶(111)晶面位错蚀坑腐蚀显示测量方法

英文标准名称：measurement of dislocation etch pits on(111) crystal face in monocrystalline silicon by etch display methods

标准状态：已作废

被代替标准号：被GB/T 1554-1995代替

废止时间：1995-12-1

语言：简体中文版、英文版

发布日期：1979-05-26

实施日期：1980-01-01

标准类别：国家标准GB

中国标准文献分类法(中标分类CCS)：冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属化学性能试验方法

国际标准分类法(ICS)：

标准页数：13页

引用标准：被GB/T 1554-1995代替